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    DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪_深圳维尔克斯光电代理

    DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪_深圳维尔克斯光电代理

    更新时间：2024-05-09   浏览数：471
    所属行业：仪器仪表 光学仪器 光学检测仪器
    发货地址：广东省深圳市龙岗区  
    产品规格：个
    产品数量：100.00个
    价格：￥156000.00 元/个 起
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    本文主要介绍DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪Beam'R2和BeamMap2。其与传统的光斑截面分析仪的较大区别是，*繁复的移动仪器便可以实时精准的得到激光的激光轮廓分布，激光质心，实时M2，指向，发散角和焦点位置和激光对准的测量。BeamMap2拥有Beam'R2所没有的功能，如实时M2，指向，发散角和焦点位置的测量的功能是只有BeamMap2具备的。


    DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。 它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量，扩展了Beam'R2的测量功能。 这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对，以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2*特的**设计较适用于焦点位置，M2，光束发散和指向的实时测量。


    DataRay的Beam'R2非常适合于许多激光光束分析的应用。 通过标准的2.5μm宽度大小的狭缝和更大的刀口切面，Beam'R2能够测量直径小至2μm的激光光束。 通过选择硅和InGaAs或扩展的InGaAs，Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。 Beam'R2扫描狭缝仪器提供比基于相机的系统更高的分辨率。


    本文主要描述了BeamMap2和Beam'R2在参数和功能上的区别。功能上Beam'R2有的功能BeamMap2基本都有。同时，BeamMap2所以拥有的功能如多个z平面扫描，实时M2，指向，发散角和焦点位置测量等特点都是Beam'R2所没有的。
    获得**的BeamMap2是一可商购的多平面光束质量分析仪。 DataRay软件中使用的BeamMap2的屏幕截图如下所示。 在这里，您可以在四个不同的z位置看到四个同时光束轮廓。 软件显示该光束在X，Y和Z中正确聚焦，并且该光束的M2为1.47。


    光束强度分析是光子学许多方面的重要工具。聚焦激光束中的精确强度分布在许多应用中是至关重要的：流式细胞术，激光打印，医疗激光和切割激光等等许多方面。 强度轮廓分布测量可以表征和改进产品性能和生产过程，从而大大节省成本和时间，如果使用过传统的激光光斑分析仪测量激光发散角以及M2值，那么您就知道该过程的耗时。 测量一次，沿z轴移动探测器，在*二个平面测量，估计焦点位置，重新调整z，再次测量......通常是一个漫长，乏味和复杂的过程。使用BeamMap2可以实时得到测量激光光束的各项参数且*繁复的人工操作便可以得到精确的激光M2，激光发散角，激光聚焦光斑位置。



    DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪Beam'R2和BeamMap2特点：
    -ISO兼容光束直径测量
    -端口供电的USB2.0
    -自动增益功能
    -可选配件，适用于符合ISO 11146标准的M2测量。
    -实时二维狭缝
    -分辨率高达0.1μm
    -探测器选项，190 - 2500 nm
    -5 Hz更新速率（用户可调节2-12 Hz）
    -测量高重复脉冲激光
    脉冲较小PRR = [500 /（光束直径，以μm为单位）] kHz
    美国DataRay狭缝扫描式光束质量分析仪BeamMap2所特别具有的特点:
    -多个z平面扫描
    -XYZ曲线，外加θ-Φ角度测量
    -焦点位置和直径
    -实时M2，指向和发散角
    -使用BeamMap2-Collimate实时测量准直光束的发散度
    -识别焦点，重复精度为±1μm（光束相关）
    -可选的LensPlate2用于探测难以接近的光束束腰和重新成像的波导
    （Optional LensPlate2 for reaching inaccessible beam waists and reimaging waveguides）
    DataRay狭缝扫描式光斑质量分析仪Beam'R2和BeamMap2主要应用：
    -非常小的激光束轮廓
    -光学组件和仪器对准
    -OEM集成
    -镜头焦距测试
    -实时诊断聚焦和对准误差
    -将多个装配体实时设置为相同的焦点
    DataRay狭缝扫描式光斑质量分析仪Beam'R2和BeamMap2参数规格对比
    参数 参数值 BeamMap2 Beam'R2 Comments
    波长可选范围（nm） 190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500 Yes Yes Si, InGaAs, Si + InGaAs,
    被扫描光束直径 2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X) Yes Yes Si + InGaAs, extended
    X-Y 轮廓及中心分辨率： 0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围 Yes Yes
    精度: ± <2% ± ≤0.5μm Yes Yes
    CW or Pulsed 连续/脉冲 较小PRR ≈ [500/(激光直径um)]kHz Yes Yes
    光束对准准直 ± 1 mrad with BeamMap2 Colli¬Mate Yes -
    M2 测量 1 to >20, ± 5% Yes - Beam Dependent
    实时更新 5 Hz Yes Yes 4 Z-plane hyperbolic fit
    最大功率＆辐照度 1 W Total & 0.3 mW/μm2 Yes Yes Adjustable 2-12 Hz
    增益范围： 32dB Yes Yes Metallic film on Sapphire slits
    Display graphics: All: X-Y position; Profiles.
    BeamMap2 only: M2, Focus; Divergence, Boresight/Pointing


    http://welloptics.cn.b2b168.com

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