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190-400nm紫外相应高灵敏度
紫外高分辨率波前分析仪
基于*特的**技术，法国Phasics公司的波前传感器具备高灵敏度及高相位分辨率的特点，即插即用的适用类型适用于大多数用户的应用环境。法国Phasics公司为用户提供两款紫外检测波前分析仪，SID4-UV和SID4-UV-HR。
相比之下，SID4-UV适用于250-400 nm波段的紫外光谱，250 × 250的取样分辨率、2 nm RMS的相位灵敏度以及7.4 × 7.4 mm²的靶面面积足以满足大部分用户需求，相比于SID4-UV-HR更具备成本效益，在满足用户使用需求的前提下有效的节约用户成本。
其中SID4-UV-HR作为SID4-UV的增强款，该设备在190-400 nm的紫外波段有着较高的相位分辨率（355×280取样分辨率）、较高的相位灵敏度（优于1 nm RMS）以及更大的靶面面积（13.8 x 10.88 mm²）。这使得SID4-UV-HR适用于光刻、半导体等领域，尤其适用于透镜或晶圆等的光学组件表征以及波前像差，波前曲线的波前探测需求。
高分辨率波前传感器应用领域：
-天文观测
-航空航天工业
-半导体加工
-工业激光
-光学元件及组装
-增强现实-虚拟现实
SID4-UV高分辨率波前传感器产品规格：
*使用官方电脑搭载SID4软件环境下
高分辨率波前传感器主要特点：
-190-400 nm紫外波段响应
-1 nm RMS高相位灵敏度
-355 × 280**高相位取样分辨率
紫外波前分析仪主要特点：
-250 - 400 nm紫外波段响应
-2 nm RMS高相位灵敏度
-250 × 250**高相位取样分辨率
高分辨率波前传感器产品应用：
-激光检测
-自适应光学检测
-等离子体检测
-光学元件及光学系统计量
SID4-UV-HR高分辨率波前传感器产品规格：
型号 | SID4-UV-HR |
波长范围 | 190 - 400 nm |
靶面尺寸 | 13.8 x 10.88 mm² |
空间分辨率 | 38.88 µm |
取样分辨率 | 355 x 280 |
相位分辨率 | 1 nm RMS |
**精度 | 10 nm RMS |
取样速度 | 30 fps |
实时处理速度* | > 3 fps (全分辨率下)* |
接口种类 | CameraLink |
尺寸（宽x高x长） | 51 x 51.1 x 76 mm³ |
重量 | 约300g |
*使用官方电脑搭载SID4软件环境下
高分辨率波前传感器产品应用：
-激光检测
-自适应光学检测
-等离子体检测
-光学元件及光学系统计量
-波前曲线检测