激光质量分析仪
发货地址：广东省深圳市龙岗区
产品数量：10000.00台
价格：￥60000.00 元/台 起
产品名称光束分析仪
品牌以色列DUMA
产品型号M2Beam-Si，M2Beam-UV，M2Beam-IR，M2Beam-U3-VIS-NIR，M2Beam-UV-NIR，SAM3-HP-M
技术工艺刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器
光谱响应（nm）SI传感器：350-1100 InGaAs传感器：800-1800 Enhanced InGaAs 传感器：800-2700
激光功率范围Si：100 μW-1 W（带衰减片） InGaAs&UV：100 μW-5 mW HP：4 kW以下
刀口数7
材质铝
透镜焦距300mm（在632.6nm时）
透镜直径25mm
扫描次数140
较小步进尺寸100μm
扫描长度280mm
重量2.5kg
尺寸100×173×415 mm
托架M6或1/4“固定
机械调整水平角：±1.5°，垂直角：±1.5°
电缆长度2.5m
深圳维尔克斯光电有限公司与以色列DUMA公司达成代理协议，专门提供的M2光束质量分析仪由七刀口式Beam Analyzer和移动平台组成，通过采集多个测量面实现对M²因子的测量，整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求，主要包括M2因子，发散角以及束腰参数等数据的检测。由于Beam Analyzer应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，以色列DUMA公司为用户提供了特殊型号选择，M2Beam-U3-VIS-NIR。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对220-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。海纳光学提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高达4 KW功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
光束质量分析仪M2Beam产品特点：-可检测连续激光以及脉冲激光-*特的断层图像重建技术-较大25mm光束尺寸测量-USB3.0接口快速数据传输-激光质量监控-可配置采样器，实现高功率激光检测-即插即用，使用便捷
光束分析仪M2Beam产品规格参数：
-输入光束激光质量分析仪 M2Beam M2Beam U3技术工艺 刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器 USB 3.0接口CMOS 2.4MP内置过滤论光谱响应（nm） SI传感器：350-1100InGaAs传感器：800-1800Enhanced InGaAs 传感器：800-2700 VIS-NIR：350-1600UV-NIR：220-1350激光功率范围 Si：100 μW-1 W（带衰减片）InGaAs&UV：100 μW-5 mWHP：4 kW以下 10μW-100mW，内置滤光轮HP：4 kW刀口数 7 —光束尺寸 带透镜高达25mm直径（Si&UV版本）束腰到透镜距离 2.0~2.5米较佳较小2米
-扫描装配附件材质 铝透镜焦距 300mm（在632.6nm时）透镜直径 25mm扫描次数 140较小步进尺寸 100μm扫描长度 280mm
-整机重量 2.5kg尺寸 100×173×415 mm托架 M6或1/4“固定机械调整 水平角：±1.5°，垂直角：±1.5°电缆长度 2.5m
光束分析仪订购信息：M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS basedM2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams
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